<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<article xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xmlns:ali="http://www.niso.org/schemas/ali/1.0/" article-type="research-article" dtd-version="1.2" xml:lang="en">
  <front>
    <journal-meta>
      <journal-id journal-id-type="issn">1561-5405</journal-id>
	    <journal-id journal-id-type="doi">10.24151/1561-5405</journal-id>	  
      <journal-id journal-id-type="publisher-id">Proceedings of Universities. Electronics</journal-id>
      <journal-title-group>
        <journal-title xml:lang="en">Scientifical and technical journal "Proceedings of Universities. Electronics"</journal-title>
        <trans-title-group xml:lang="ru">
          <trans-title>Научно-технический журнал «Известия высших учебных заведений. Электроника»</trans-title>
        </trans-title-group>        
      </journal-title-group>      
      <issn publication-format="print">1561-5405</issn>
      <issn publication-format="online">2587-9960</issn>
      <publisher>
        <publisher-name xml:lang="en">National Research University of Electronic Technology</publisher-name>
        <publisher-name xml:lang="ru">Национальный исследовательский университет "Московский институт электронной техники"</publisher-name>
      </publisher>
    </journal-meta>
    <article-meta>                                    
      
    <article-id pub-id-type="doi">10.24151/1561-5405-2024-29-1-65-78</article-id><article-id pub-id-type="risc">QXXHKC</article-id><article-id pub-id-type="udk">621.382.323.049.77: 536.48</article-id><article-categories><subj-group><subject>Схемотехника и проектирование</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title xml:lang="en">Simulation of electro-thermal transient responses in power PCB modules using Comsol, Spice, Asonika-ТМ</article-title><trans-title-group xml:lang="ru"><trans-title>Моделирование электротепловых переходных процессов в мощных электронных схемах на печатных платах с использованием программного обеспечения Comsol, Spice, «Асоника-ТМ»</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author"><string-name xml:lang="ru">Петросянц Константин Орестович</string-name><name-alternatives><name xml:lang="ru"><surname>Петросянц</surname><given-names>Константин Орестович</given-names></name><name xml:lang="en"><surname>Petrosyants</surname><given-names>Konstantin O.</given-names></name></name-alternatives><string-name xml:lang="en">Konstantin O. Petrosyants</string-name><xref ref-type="aff" rid="AFF-1"/></contrib><contrib contrib-type="author"><string-name xml:lang="ru">Харитонов Игорь Анатольевич</string-name><name-alternatives><name xml:lang="ru"><surname>Харитонов</surname><given-names>Игорь Анатольевич</given-names></name><name xml:lang="en"><surname>Kharitonov</surname><given-names>Igor A.</given-names></name></name-alternatives><string-name xml:lang="en">Igor A. Kharitonov</string-name><xref ref-type="aff" rid="AFF-2"/></contrib><contrib contrib-type="author"><string-name xml:lang="ru">Тегин Михаил Сергеевич</string-name><name-alternatives><name xml:lang="ru"><surname>Тегин</surname><given-names>Михаил Сергеевич</given-names></name><name xml:lang="en"><surname>Tegin</surname><given-names>Mikhail S.</given-names></name></name-alternatives><string-name xml:lang="en">Mikhail S. Tegin</string-name><xref ref-type="aff" rid="AFF-3"/></contrib><aff id="AFF-1" xml:lang="ru">Национальный исследовательский университет «Высшая школа экономики» (Россия, 123458, г. Москва, Таллиннская ул., 34); Институт проблем проектирования в микроэлектронике Российской академии наук (Россия, 124365, г. Москва, г. Зеленоград, ул. Советская, 3)</aff><aff id="AFF-2" xml:lang="ru">Национальный исследовательский университет «Высшая школа экономики» (Россия, 123458, г. Москва, ул. Таллиннская, 34)</aff><aff id="AFF-3" xml:lang="ru">ООО «Компекс-Т» (Россия, 117630, г. Москва, Старокалужское шоссе, 62)</aff></contrib-group><pub-date iso-8601-date="2026-02-11" date-type="pub" publication-format="electronic"><day>11</day><month>02</month><year>2026</year></pub-date><volume>Том. 29 №1</volume><fpage>65</fpage><lpage>78</lpage><self-uri>http://ivuz-e.ru/issues/..Том 29 №1/modelirovanie_elektroteplovykh_perekhodnykh_protsessov_v_moshchnykh_elektronnykh_skhemakh_na_pechatn/</self-uri><self-uri content-type="pdf">http://ivuz-e.ru#</self-uri><abstract xml:lang="en"><p>Large temperature jumps in the structures of power semiconductor devices occurring when they are turned on and off significantly reduce the reliability of power circuits. Widely used electro-thermal modeling approaches for thermal circuits have a number of disadvantages: the use of interconnected Spice simulators and numerical 3D thermal field modeling tool requires a detailed description of 3D structures and a large computer time; the use of only Spice-like simulators of electrical circuits for mixed electro-thermal modeling require the creation of electro-thermal models of power components and significant CPU time costs due to the large difference in the time constants of the electrical and thermal parts. In this work, an improved scheme of multilevel automated electro-thermal modeling and simulation of power electronic components using Comsol software at the semiconductor device level, Spice simulation at the circuit level and Asonika-TM system at the printed circuit board (PCB) level is proposed and implemented. The developed additional software tools for the implementation of the proposed route are described, providing automation of power calculation processes in capacities of components of powerful circuits, components, of obtained values transferring to a thermal simulation tool and of forming electro-thermal models of circuit components. The correctness of the proposed modeling scheme was confirmed by the results of thermal-imaging analysis using an IR camera. The effectiveness of the proposed methodology was demonstrated through the example of a real PCB design with high-power MOSFETs for power stepper motor driving. In the analyzed circuit, a possible thermal failure of the output DMOSFETs due to their overheating was revealed. To improve conditions of their temperature value lowering it has been proposed to use larger electrode radiator with lesser thermal resistance.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="ru"><p>Большие скачки температуры в структурах мощных полупроводниковых приборов при их включении и выключении существенно снижают надежность работы силовых схем. Широко используемые маршруты электротеплового моделирования тепловых схем имеют ряд недостатков: использование взаимосвязанных Spice-симуляторов электрических цепей и пакета 3D численного моделирования тепловых полей требует детального описания 3D-конструкций и больших затрат компьютерного времени; использование только Spice-подобных симуляторов электрических цепей для смешанного электротеплового моделирования требует создания электротепловых моделей силовых компонентов и значительных затрат процессорного времени из-за большой разницы в постоянных времени электрической и тепловой частей. В работе предложена и реализована усовершенствованная схема многоуровневого автоматизированного электротеплового моделирования мощных электронных компонентов с использованием программного обеспечения Comsol на уровне полупроводниковых приборов, Spice-моделирования на уровне принципиальных схем и системы «Асоника-ТМ» на уровне печатных плат. Описаны разработанные дополнительные программные средства для реализации предложенного маршрута, обеспечивающие автоматизацию процессов расчета мощностей компонентов мощных схем, передачи этих значений в пакет теплового моделирования и формирования электротепловых моделей компонентов схем. Корректность рассматриваемой схемы моделирования подтверждена результатами тепловизионного анализа с помощью инфракрасной камеры. Эффективность предложенной методологии продемонстрирована на примере реальной конструкции печатной платы силовой схемы, содержащей мощные МОП-транзисторы, для управления мощным шаговым двигателем. В анализируемой схеме выявлен возможный тепловой отказ выходных ДМОП-транзисторов вследствие их перегрева. Для улучшения условий снижения значений их температуры предложено использовать более крупный радиатор с меньшим тепловым сопротивлением.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>мощные компоненты</kwd><kwd>силовая схема</kwd><kwd>МОП-транзистор</kwd><kwd>печатная плата</kwd><kwd>Spice-симулятор</kwd><kwd>электротепловое моделирование</kwd><kwd>тепловые схемы</kwd><kwd>ИК-измерения</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>high-power component</kwd><kwd>power circuit</kwd><kwd>MOSFET</kwd><kwd>PCB</kwd><kwd>Spice simulator</kwd><kwd>electro-thermal modeling</kwd><kwd>thermal sub-circuit</kwd><kwd>IR measurements</kwd></kwd-group><funding-group><funding-statement xml:lang="ru">Работа выполнена при финансовой поддержке Программы «Приоритет-2030» в рамках стратегического проекта НИУ ВШЭ «Цифровая трансформация: технологии, эффекты, эффективность» (проект № 23-22-00313). </funding-statement><funding-statement xml:lang="ru">The work has been supported by the “Priority 2030” Program within the framework of the HSE strategic project “Digital Transformation: Technology, Effects, Efficiency” (project no. 23-22-00313).</funding-statement></funding-group></article-meta>
  </front>
  <body/>
  <back>
    <ref-list><ref id="B1"><label>1.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Poppe A. Electro-thermal simulation: Methods, tools, examples // StudyLib [Электронный ресурс]. 2004. URL: https://studylib.net/doc/9674147/electro-thermal-simulation (дата обращения: 20.11.2023).</mixed-citation></ref><ref id="B2"><label>2.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Shinoda T. Three thermal simulation &amp;amp; test innovations for electronics equipment design // Electronics Cooling [Электронный ресурс]. 2019. URL: https://www.electronics-cooling.com/2019/06/three-thermal-simulation-test-innovations-for-electronic... (дата обращения: 20.11.2023).</mixed-citation></ref><ref id="B3"><label>3.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Hauck T., Teulings W., Rudnyi E. Electro-thermal simulation of multi-channel power devices on PCB with SPICE // 2009 15th International Workshop on Thermal Investigations of ICs and Systems. Leuven: IEEE, 2009. P. 124-129.</mixed-citation></ref><ref id="B4"><label>4.</label><mixed-citation xml:lang="ru">PSpice-COMSOL-based 3-D electrothermal-mechanical modeling of IGBT power module / Y. Jia, F. Xiao, Y. Duan et al. // IEEE Journal of Emerging and Selected Topics in Power Electronics. 2020. Vol. 8. No. 4. P. 4173-4185. DOI: 10.1109/JESTPE.2019.2935037 EDN: NQSVGQ</mixed-citation></ref><ref id="B5"><label>5.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Ali K. M., Sommet R., Mons S., Ngoya E. Behavioral electro-thermal modeling of power amplifier for system-level design // 2018 International Workshop on Integrated Nonlinear Microwave and Millimetre-wave Circuits (INMMIC). Brive La Gaillarde: IEEE, 2018. P. 1-3. DOI: 10.1109/INMMIC.2018.8430009</mixed-citation></ref><ref id="B6"><label>6.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Codecasa L., D'Alessandro V., Magnani A., Irace A. Circuit-based electrothermal simulation of power devices by an ultrafast nonlinear MOR approach // IEEE Transactions on Power Electronics. 2016. Vol. 31. No. 8. P. 5906-5916. DOI: 10.1109/TPEL.2015.2494500</mixed-citation></ref><ref id="B7"><label>7.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Ma K., Blaabjerg F. Multi-timescale modelling for the loading behaviours of power electronics converter // 2015 IEEE Energy Conversion Congress and Exposition (ECCE). Montreal: IEEE, 2015. P. 5749-5756. DOI: 10.1109/ECCE.2015.7310467</mixed-citation></ref><ref id="B8"><label>8.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Blackmore B. The future of thermal design - earlier electrothermal analysis // Siemens Blogs [Электронный ресурс]. 17.12.2020. URL: https://blogs.sw.siemens.com/simcenter/future-of-thermal-design-electrothermal-modeling-bci-rom-vhdl... (дата обращения: 12.02.2022).</mixed-citation></ref><ref id="B9"><label>9.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Eddleman D. LTspice: SOAtherm support for PCB and heat sink thermal models // Analog Devices [Электронный ресурс]. URL: https://www.analog.com/en/technical-articles/ltspice-soatherm-support-for-pcb-and-heat-sink-thermal-... (дата обращения: 12.02.2022).</mixed-citation></ref><ref id="B10"><label>10.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Vogt H. Tutorial: ngspice electro-thermal simulation // NGSPICE [Электронный ресурс]. URL: http://ngspice.sourceforge.net/ngspice-electrothermal-tutorial.html (дата обращения: 22.11.2023).</mixed-citation></ref><ref id="B11"><label>11.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Blackmore B. Electrothermal circuit simulation enabled by VHDL-AMS thermal netlists // Siemens Blogs [Электронный ресурс]. 11.09.2020. URL: https://blogs.sw.siemens.com/simcenter/electrothermal-simulation-thermalnetlist-vhdl-ams-flotherm/ (дата обращения: 12.02.2022).</mixed-citation></ref><ref id="B12"><label>12.</label><mixed-citation xml:lang="ru">АСОНИКА [Электронный ресурс]. URL: https://asonika-online.ru (дата обращения: 22.11.2023).</mixed-citation></ref><ref id="B13"><label>14.</label><mixed-citation xml:lang="ru">ASONIKA. Available at: https://asonika.com (accessed: 22.11.2023).</mixed-citation></ref><ref id="B14"><label>13.</label><mixed-citation xml:lang="ru">COMSOL [Электронный ресурс]. URL: https://www.comsol.com (дата обращения: 22.11.2023).</mixed-citation></ref><ref id="B15"><label>14.</label><mixed-citation xml:lang="ru">The Spice page // EECS Department of the University of California at Berkeley [Электронный ресурс]. URL: http://bwrcs.eecs.berkeley.edu/Classes/IcBook/SPICE/ (дата обращения: 22.11.2023).</mixed-citation></ref><ref id="B16"><label>15.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Petrosyants K. O., Kharitonov I. A., Ryabov N. I. Electro-thermal design of smart power devices and integrated circuits // Adv. Mat. Res. 2014. Vol. 918. P. 191-194. DOI: 10.4028/www.scientific.net/AMR.918.191 EDN: UGHGYB</mixed-citation></ref><ref id="B17"><label>16.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Extension of the capabilities of SPICE analysis tools for electro-thermal simulation of power electronic circuits / I. Kharitonov, G. Klopotov, V. Kobyakov et al. // 2022 Moscow Workshop on Electronic and Networking Technologies (MWENT). Moscow: IEEE, 2022. P. 1-5. 10.1109/MWENT55238. 2022.9802371. DOI: 10.1109/MWENT55238.2022.9802371</mixed-citation></ref><ref id="B18"><label>17.</label><mixed-citation xml:lang="ru">IRFB4615PbF International Rectifier // Infineon Technologies [Электронный ресурс]. 05.09.2008. URL: https://www.infineon.com/dgdl/irfb4615pbf.pdf?fileId=5546d462533600a4015356165a741e42 (дата обращения: 22.11.2023).</mixed-citation></ref><ref id="B19"><label>18.</label><mixed-citation xml:lang="ru">OMNI-UNI-30-50-D Wakefield-Vette // Mouser Electronics Europe [Электронный ресурс]. URL: https://eu.mouser.com/ProductDetail/Wakefield-Vette/OMNI-UNI-30-50-D (дата обращения: 12.02.2022).</mixed-citation></ref><ref id="B20"><label>19.</label><mixed-citation xml:lang="ru">Mission-profile-based lifetime prediction for a SiC MOSFET power module using a multi-step condition-mapping simulation strategy / L. Ceccarelli, R. M. Kotecha, A. S. Bahman et al. // IEEE Transactions on Power Electronics. 2019. Vol. 34. No. 10. P. 9698-9708.  DOI: 10.1109/TPEL.2019.2893636</mixed-citation></ref></ref-list>    
  </back>
</article>
